第231章 生產測試（下）

 “或許是工人對新的生產線不熟悉，操作過程中有失誤吧。畢竟他們以前操作的都是使用duv光刻機的28nm生產線，和這條使用euv光刻機的7nm芯片生產線，差距還是有些大的。” 

 “說的有道理，操作不當確實有可能影響最終的芯片良品率。整個芯片生產流程有著幾百個步驟，任何一個節點上出了問題，都會影響最後的良品率。” 

 “在我看來，芯片合格率為零也沒什麼奇怪的，這畢竟是一條全新的芯片生產線，新設備，新工藝，再加上一幫剛剛完成培訓的操作工人，這麼多不利因素疊加在一起，生產出來的芯片全軍覆沒，不是很正常嗎。” 

 “說的也是，這次生產測試失敗了也沒什麼，只要咱們能找出問題出現在哪裡，然後在後續的測試中更正它就好。” 

 就在眾人議論紛紛的時候，芯片測試員小姑娘，發出了一聲驚呼，吸引了所有人的注意，“呀，終於檢測到了一枚合格的芯片！” 

 “真的嗎，快讓我看看，第47號晶圓，編號145芯片，檢測合格！這真是太好了，終於有一枚合格的芯片了。” 

 “這至少證明了，喬總提供的掩膜版沒問題，是可以生產出合格內存芯片的。” 

 “趕緊把那枚合格的芯片剪裁下來，進行封裝測試。7nm工藝生產的ddr3內存，我還沒見過呢，相信在功耗、發熱和超頻性能上，會有著非常優秀的表現。” 

 有了這個好的開頭，後面的晶圓上，又陸續檢測出了幾十枚合格的芯片。一眾工程師將這些合格的芯片剪裁下來，而後封裝，加工成了幾根8g大小的ddr3內存條。喬瑞達將這幾根內存條，裝到幾臺不同品牌，不同配置的電腦上，進行了一番詳細測試。測試結果表明，這些瑞芯晶圓廠自產的內存，兼容性良好，發熱量很低，超頻性能極其優秀，即使跑到2133mhz的超高頻率上，也非常的穩定。 

 喬瑞達將內存測試報告打印出來，分給王院士、周教授等人一人一份，“這是測試報告，大家都看一下吧。”